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        BeNano Zeta 電位分析儀

        產品介紹


        BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移,進而得到體系的 Zeta 電位信息。


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        基本性能指標


        Zata電位測試

          原理

          相位分析光散射技術

          檢測角度

          12°

          Zeta范圍

          無實際限制

          電泳遷移率范圍

          > ±20 μ.cm/V.s

          電導率范圍

          0-260 mS/cm

          Zeta測試粒徑范圍

          2 nm – 110 μm

          樣品量

          0.75 mL – 1.0 mL

        趨勢測試

          時間和溫度

        系統參數

          溫控范圍

          -15℃-110℃,精度±0.1

          冷凝控制

          干燥空氣或者氮氣

          標準激光光源

          50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

          相關器

          最多 4000通道,1011動態線性范圍

          檢測器

          APD (高性能雪崩光電二極管)

          光強控制

          0.0001%  - 100%,手動或者自動

        軟件

           中文和英文

          符合21CFR Part 11



        檢測參數

        ●Zeta 電位

        Zeta 電位分布



        檢測技術

        ●電泳光散射

        ●相位分析光散射




        選配件


        BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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        相關技術    


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        相關應用 更多+

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