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      1. 銷售熱線 : 400-655-8837
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        BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

        產品介紹

        BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

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        基本性能指標


        粒徑檢測

          原理原理

          動態光散射技術

          粒徑范圍

          0.3 nm – 15 μm

          樣品量

          3 μL – 1 mL

          檢測角度

          90 ° + 12°

          分析算法

         Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

        Zeta電位測試

          原理原理

          相位分析光散射技術

          檢測角度

          12°

          Zeta范圍

          無實際限制

          電泳遷移率范圍

          >±20 μ.cm/V.s

          電導率范圍

           0 - 260 mS/cm

          Zeta測試粒徑范圍

          2 nm – 110 μm 

        分子量測試

          分子量范圍

          342 Da – 2 x 107 Da 

        微流變測試

          頻率范圍

           0.2 – 1.3 x 107 rad/s

          測試能力

          均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

        折光率和粘度測試

          粘度范圍

          0.01 cp – 100 cp

          折光率范圍

          1.3-1.6

        趨勢測試

          時間和溫度

         

        系統參數

          溫控范圍

          -15°C - 110°C ,精度±0.1°C 

          冷凝控制

          干燥空氣或者氮氣

          標準激光光源

          50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

          相關器

          最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍

          檢測器

          APD (高性能雪崩光電二極管)

          光強控制

          0.0001%  - 100%,手動或者自動

        軟件

          中文和英文

         符合21CFR Part 11



        檢測參數


        ●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

        ●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

        ●分子量

        ●分布系數 PD.I

        ●擴散系數 D

        ●流體力學直徑 DH

        ●顆粒間相互作用力因子 kD

        ●溶液粘度



        檢測技術

        ●動態光散射

        ●電泳光散射

        ●相位分析光散射

        ●靜態光散射




        選配件


        BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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        相關技術    


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        相關應用 更多+

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