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      1. 銷售熱線 : 400-655-8837
        服務熱線 : 400-0388-017
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        BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀

        產品介紹


        BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano  90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。 該系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可 廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的 基礎研究和質量分析與控制。

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        基本性能指標


        粒徑檢測

          原理  動態光散射技術
          粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
          樣品量  3 μL – 1 mL
          檢測角度  173 °+90 ° + 12°
          分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

        Zate電位測試

          原理  相位分析光散射技術
          檢測角度  12°
          Zeta范圍  無實際限制
          電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
          電導率范圍  0 - 260 mS/cm
          Zeta測試粒徑范圍  2 nm – 110 μm  

        分子量測試

          分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

        微流變測試

          頻率范圍  0.2 – 1.3 x 107 rad/s
          測試能力  均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

        粘度和折光率測試

          粘度范圍  0.01 cp – 100 cp
          折光率范圍  1.3-1.6

        趨勢測試

          時間與溫度  

        系統參數

          溫控范圍  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
          冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
          相關器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
          電泳遷移率范圍  最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍
          檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)
          光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    

        軟件

          中文和英文  符合21CFR Part 11



        檢測參數


        ●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

        ●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

        ●分子量

        ●分布系數 PD.I

        ●擴散系數 D

        ●流體力學直徑 DH

        ●顆粒間相互作用力因子 kD

        ●溶液粘度



        檢測技術

        ●動態光散射

        ●靜態光散射

        ●電泳光散射




        選配件


        BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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        相關技術    


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        相關應用 

        更多+


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